產(chǎn)品名稱：AMETEK FAST SDD 檢測(cè)器
產(chǎn)品型號(hào)：
更新時(shí)間：2025-07-25
產(chǎn)品特點(diǎn)：AMETEK FAST SDD 檢測(cè)器 Amptek推出全新SDD探測(cè)器，針對(duì)掃描電鏡能譜儀客戶應(yīng)用（EDS SEM）利用全新技術(shù)“C”系列X射線窗口(Si3N4)，能夠?qū)Φ湍芰繀^(qū)域元素快速響應(yīng)，新Amptek SDD™可以很好的測(cè)試元素碳(C)，高效率快速SDD™是EDS光譜儀的方案。
產(chǎn)品詳細(xì)資料：
AMETEK FAST SDD 檢測(cè)器這款硅漂移探測(cè)器(SDD,Silicon Drift Detector)專門為RF光譜儀和SEM掃描電鏡EDS能譜儀探測(cè)器應(yīng)用而設(shè)計(jì),提供窗口材料的選擇，從鈹（8μm）到薄型聚合物（用于輕型透射）,并提供10mm2至60mm2的傳感器有源區(qū)域. 此外,所有或我們的SEM SDD版本都是無(wú)振動(dòng)的。
SDD探測(cè)器
IXRF電制冷（LN-free）硅漂移探測(cè)器與具有**性的、基于以太網(wǎng)的數(shù)字脈沖處理器相結(jié)合后，在探測(cè)范圍上更加具有優(yōu)勢(shì)。根據(jù)用戶的不同需求來(lái)進(jìn)行配置，IXRF SDD探測(cè)器能夠在一個(gè)較大的輸入計(jì)數(shù)率范圍內(nèi)快速生成X射線圖，并且性能穩(wěn)定。SDD探測(cè)器既可以作為EDS的探頭，也可以作為XRF的探頭。窗口材料的選擇范圍為鈹(8微米)到聚合物薄膜(輕元素)，探測(cè)器有效面積有10mm2、30mm2、60 mm2三種。此外，SDD還可以免費(fèi)升級(jí)。
AMETEK FAST SDD 檢測(cè)器的參數(shù)
| 型號(hào) | 有效面積 | 窗口類型 | 分辨率 |
| SDD2310 | 10mm2 | Light Element (AP3.3) or 8μm Be | ≥123 |
| SDD2710 | 10mm2 | Light Element (AP3.3) or 8μm Be | ≤127 |
| SDD2810 | 10mm2 | Light Element (AP3.3) or 8μm Be | ≤128 |
| SDD2830 | 30mm2 | Light Element (AP3.3) or 8μm Be | ≤128 |
| SDD3030 | 30mm2 | Light Element (AP3.3) or 8μm Be | ≤130 |
| SDD3360 | 60mm2 | Light Element (AP3.3) or 8μm Be | ≤133 |
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